Phenom XL

 

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El Microscopio Electrónico Phenom XL marca los límites de los equipos de sobremesa. Con la ya probada facilidad de uso y rapidez en la obtención de imágenes, está equipado con una cámara que permite la medida de muestras con dimensiones de hasta 100x100mm.

El Phenom XL incorpora un mecanismo patentado que asegura el ciclo más rápido de carga/ventilación del mundo y el mejor rendimiento. Además incorpora una nueva plataforma compacta motorizada que permite al usuario escanear toda el área completa de la muestra sin instalaciones adicionales.

Este nuevo sistema Phenom XL incorpora una cámara de navegación óptica que permite al usuario desplazarse sobre cualquier punto de la muestra con un solo "clic" y en cuestión de segundos.

Especificaciones técnicas:

  • Rango de magnificación óptica: 3 a 16x
  • Rango de magnificación electrónica: 80 a 100.000x
  • Resolución: <20nm
  • Analizador multi-canal de 2048 canales a 10eV/ch
  • Voltajes de aceleración:
  • Modo estándar: 5 kV, 10 kV y 15 kV
  • Modo avanzado: ajustable entre 4.8 kV y 15 kV para imagen y análisis
  • Modo especial "Secundary Electron Detector"
  • Fuente termoiónica de larga vida (CeB6)
  • Carga de la muestra: Optica en < 5 s y SEM en < 60 s
  • Modo de imagen de reducción de carga: 5kV
  • Tamaño de muestra: Máximo 100 mm x 100 mm (hasta 36x12 "pin stubs"

Dimensiones y peso:

  • Módulo de imagen: 316 (w) x 587 (d) x 625 (h) mm, 75 kg
  • Bomba de vacío de diafragma: 145 (w) x 220 (d) x 213 (h) mm, 4.5 kg
  • Fuente de alimentación: 156 (w) x 300 (d) x 74 (h) mm, 3 kg
  • Monitor táctil de 19": 375 (w) x 203 (d) x 395 (h) mm, 7.9 kg

 

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Phenom Pharos

 

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Thermo Scientific Phenom Pharos es un SEM de escritorio con una fuente de FEG que crea imágenes nítidas y de alto brillo y los beneficios de una fuente de FEG al alcance de todos. También es fácil de operar, desde la instalación inicial hasta el uso real, gracias a su diseño intuitivo y compacto.

El avanzado diseño de hardware y los detectores permiten una imagen en tiempo rápido y un manejo fácil e infalible.

Phenom Pharos Desktop SEM. Resolución. Renovado.

 

 

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Phenom Pro X

 

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Microscopio SEM todo en uno ProX

El Microscopio Electrónico de Barrido de sobremesa Phenom ProX es el máximo exponente de resolución y análisis elemental de Phenom-World todo en uno incluyendo imagen y sistema de análisis por rayos X. Viendo imágenes en tres dimensiones de estructuras microscópicas, resolvemos una parte de información cuando estamos analizando muestras.

En ocasiones es importante recoger algo más que los datos ópticos, disponiendo de la identificación de los diferentes elementos de la propia muestra. Todo esto se logra en el sistema Phenom ProX con un detector EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) específicamente diseñado e integrado para estos propósitos.

EDS o Espectroscopía de Energía Dispersiva, es una técnica analítica que analiza los rayos X generados por una muestra cuando se bombardea con un haz de electrones.

Este sistema de análisis elemental está completamente integrado en el Microscopio Electrónico de Barrido de Sobremesa Phenom ProX, junto con el software de control. Cambiar entre paquetes de software u ordenadores deja de ser necesario con la capacidad "todo en uno" del sistema Phenom ProX de Phenom-World.

Especificaciones técnicas:

  • Rango de magnificación óptica: 20 a 120x
  • Rango de magnificación óptica: 80 a 100.000x
  • Resolución: <17nm
  • Analizador multi-canal de 2048 canales a 10eV/ch
  • Modo de análisis a alta velocidad de rayos X: 15kV
  • Fuente termoiónica de larga vida (CeB6)
  • Carga de la muestra en menos de 30 segundos
  • Modo de imagen de reducción de carga: 5kV

Dimensiones y peso:

  • Módulo de imagen: 286 (w) x 566 (d) x 495 (h) mm, 50 kg
  • Bomba de vacío de diafragma: 145 (w) x 220 (d) x 213 (h) mm, 4.5 kg
  • Fuente de alimentación: 156 (w) x 300 (d) x 74 (h) mm, 3 kg
  • Monitor táctil de 19": 375 (w) x 203 (d) x 395 (h) mm, 7.9 kg

 

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Microscopio SEM Phenom GSR

 

Pic Phenom GSR

El análisis de residuos de disparos (GSR) desempeña un papel importante en la determinación de si se ha utilizado un arma de fuego en un delito. Las técnicas de análisis de GSR establecidas se basan en el uso de un microscopio electrónico de barrido (SEM), que se utiliza para escanear la muestra y encontrar partículas GSR sospechosas. Si se encuentra una partícula sospechosa, se utiliza una técnica de espectroscopia de dispersión de energía (EDS) para identificar los elementos en esa partícula.

Phenom Perception GSR es el primer SEM de escritorio del mundo que puede ejecutar el análisis GSR automatizado. Está basado en el SEM de escritorio Phenom XL. Tanto el software como el hardware están totalmente integrados para mejorar el funcionamiento, la confiabilidad y la velocidad de análisis.

El escritorio SEM Phenom GSR incluye los siguientes elementos:

  • Paquete automatizado de software de clasificación y análisis de residuos de disparo.
  • Detector integrado BSED y EDS
  • Muestra de calibración

 

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Phenom Pro

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Phenom Pro es un modelo de gama superior, es el más avanzado de la nueva generación de Phenom. Incluye un nuevo sistema de detección, nueva fuente electrónica y la nueva cámara de navegación NavCam que permite reducir la distancia entre la imagen óptica y la electrónica de barrido y se ha incrementado el rango de magnificación hasta 100.000 veces.

 

 

Estas magníficas características junto con la combinación de trabajo con una pantalla táctil y un ratón óptico permiten al Phenom Pro una navegación más rápida y precisa.

 

Phenom Pro es el Microscopio Electrónico de Barrido de Sobremesa más eficaz, rápido y versátil del mercado. Su diseño único hace que se adecúe a múltiples aplicaciones y mercados. Incluye el software de aplicación Pro, y además puede incorporarse la opción "Pro Suite", la cuál ha sido desarrollada para extraer la máxima información sobre las propiedades de la imagen de una muestra. Y dentro de ésta incluye aplicaciones opcionales como "Fibermetric", que permiten la observación directa y medida de poros en micro y nano fibras y permite el análisis de fibras tipo hilado eléctrico o fibras fundidas por soplado y "3D Roughness Reconstruction" que genera imágenes en 3 dimensiones y permite la medida de rugosidad submicrónica.

 

Especificaciones técnicas:

  • Rango de magnificación: 20 a 100.000x
  • Zoom digital: max. 12xResolución: <17nm
  • Formatos de imagen: JEPG, TIFF, BMP
  • Carga de la muestra en menos de 30 segundos
  • Control de muestra automatizado
  • Almacenamiento de datos: USB 2.0 Flash drive
  • Consumo de energía muy bajo

Dimensiones y peso:

  • Módulo de imagen: 286 (w) x 566 (d) x 495 (h) mm, 50 kg
  • Bomba de vacío de diafragma: 145 (w) x 220 (d) x 213 (h) mm, 4.5 kg
  • Fuente de alimentación: 156 (w) x 300 (d) x 74 (h) mm, 3 kg
  • Monitor táctil de 19": 375 (w) x 203 (d) x 395 (h) mm, 7.9 kg

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